Утвержден и введен в действие
Приказом Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологии
от 13 декабря 2011 г. N 1007-ст
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
КАРТЫ ИДЕНТИФИКАЦИОННЫЕ
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ
ЧАСТЬ 3
КАРТЫ НА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМАХ С КОНТАКТАМИ И СВЯЗАННЫЕ
С НИМИ УСТРОЙСТВА СОПРЯЖЕНИЯ
Identification cards. Test methods. Part 3. Integrated
circuit cards with contacts and related interface devices
ISO/IEC 10373-3:2010
Identification cards - Test methods - Part 3: Integrated
circuit cards with contacts and related interface devices
(IDT)
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3-2011
Группа Э49
ОКС 35.240.15
ОКСТУ 4084
Дата введения
1 января 2013 года
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения".
Сведения о стандарте
1. Подготовлен Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении" (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии" на основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4.
2. Внесен Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии".
3. Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 13 декабря 2011 г. N 1007-ст.
4. Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-3:2010 "Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3: Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения" (ISO/IEC 10373-3:2010 "Identification cards - Test methods - Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices").
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном Приложении ДА.
5. Введен впервые.
6. Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объектами патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных прав.
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых информационных указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет.
1. Область применения
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для определения характеристик карт на интегральных схемах с контактами (далее - карт) и связанных с ними устройств сопряжения в соответствии с определением, приведенным в ИСО/МЭК 7816. На каждый метод испытания имеется указание в одном или нескольких основных стандартах, например в ИСО/МЭК 7816, либо в одном или нескольких дополнительных стандартах, устанавливающих требования к различным технологиям хранения информации, применяемым в карте.
Примечание. Критерии приемлемости не являются частью настоящего стандарта, но их можно найти в основных стандартах.
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, которые являются специфическими для технологий для карт на интегральных схемах с контактами. В ИСО/МЭК 10373-1 определены методы испытаний, являющиеся общими для одной или нескольких технологий для карт, а остальные стандарты этой серии устанавливают иные методы испытаний для специальных технологий.
Методы испытаний, описанные в настоящем стандарте, предназначены для отдельного и независимого выполнения. Для конкретной карты не требуется последовательное выполнение всех испытаний. Описанные в настоящем стандарте методы испытаний основаны на методах, установленных в ИСО/МЭК 7816-3.
Соответствие техническим требованиям карт и IFD, установленное с помощью методов испытаний, определенных в настоящем стандарте, не исключает сбоев поля. Испытания на безотказность в настоящем стандарте не рассматриваются.
Настоящий стандарт не описывает испытания, позволяющие установить функциональные возможности карт на интегральных схемах в полном объеме. Методы испытаний, рассматриваемые в настоящем стандарте, требуют проверки лишь минимальной функциональности. Ее определяют следующим образом:
- любая интегральная схема, имеющаяся в карте, продолжает показывать отклик на Ответ-на-Восстановление, который соответствует базовому стандарту;
- каждый контакт, соединенный с интегральной схемой, имеющейся в карте, продолжает показывать электрическое сопротивление, которое соответствует базовому стандарту.
2. Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ИСО/МЭК 7810:2003 Карты идентификационные. Физические характеристики (ISO/IEC 7810:2003 Identification cards - Physical characteristics)
ИСО/МЭК 7816-3:2006 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 3. Электронный интерфейс и протоколы передачи (ISO/IEC 7816-3:2006 Identification cards - Integrated circuit cards - Part 3: Cards with contacts - Electrical interface and transmission protocols)
ИСО/МЭК 7816-4:2005 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 4. Организация, защита и межотраслевые команды для обмена (ISO/IEC 7816-4:2005 Identification cards - Integrated circuit cards - Part 4: Organization, security and commands for interchange)
3. Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
3.1. Карта (card): карта на интегральной схеме с контактами, как определено в ИСО/МЭК 7816.
3.2. DUT (device under test): карта или IFD, подвергающиеся испытанию.
3.3. Фактор-etu (etu-factor): параметры, предусмотренные выбором протокола и параметров (PPS), описанные в ИСО/МЭК 7816-3, 6.3.1.
3.4. IFD (interface device): устройство сопряжения для карт на интегральных схемах с контактами согласно определению ИСО/МЭК 7816-3.
3.5. Нормальное применение (normal use): применение карты в качестве идентификационной, как определено ИСО/МЭК 7810:2003, 4.1, включая использование в машинных процессах, соответствующих технологии хранения информации, реализованной в данной карте, и хранение карты как личного документа в промежутках между машинными процессами.
3.6. Метод испытаний (test method): метод проверки характеристик идентификационных карт и связанных с ними устройств сопряжения с целью подтверждения их соответствия международным стандартам.
3.7. Сценарий испытаний (test scenario): определенный типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения, используемые в методах испытаний, установленных в настоящем стандарте.
3.8. Типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения (typical protocol and application specific communication): коммуникации между испытываемым устройством DUT и соответствующим испытательным оборудованием, основанные на протоколе и приложении, выполняемом в DUT, и представляющие его нормальное применение.
4. Общие понятия, относящиеся к методам испытаний
4.1. Внешние условия при испытаниях
Испытания физических, электрических и логических характеристик карт проводят при температуре окружающей среды 23 °C +/- 3 °C, относительной влажности 40% - 60%, если не определено иное.
4.2. Предварительное кондиционирование
Если метод испытаний требует проведения предварительного кондиционирования, испытуемые идентификационные карты выдерживают до начала испытания в нормальных климатических условиях в течение 24 ч, если не установлено иное.
4.3. Выбор метода испытаний
Определенный метод испытаний должен применяться в соответствии с требованиями для проверки характеристик карт, установленных в соответствующем базовом стандарте.
4.4. Допускаемые отклонения
Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных размеров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного оборудования) от указанных в стандарте значений не должны превышать +/- 5%, если не оговорены другие допускаемые отклонения.
4.5. Суммарная погрешность измерения
Суммарная погрешность измерения по каждой величине, определяемой данным методом испытаний, должна быть указана в протоколе испытаний.
4.6. Соглашения по электрическим измерениям
Разница потенциалов определяется относительно GND (земля) контакта карты, а ток, входящий в карту, считается положительным.
4.7. Оборудование
4.7.1. Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами (испытательное оборудование)
4.7.1.1. Генерирование напряжения VCC и синхронизация
Таблица 1
Напряжение и синхронизация для VCC
Параметр Режим работы Диапазон Точность
Класс A, B, C От -1 до 6 В +/- 20 мВ
, Класс A, B, C От 0 до 500 мкс +/- 100 мкс
Для просмотра документа целиком скачайте его >>>
